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Automated dynamic inspection using active infrared thermography

dc.contributor.authorUsamentiaga Fernández, Rubén 
dc.contributor.authorMokhtari, Yacine
dc.contributor.authorIbarra Castanedo, Clemente
dc.contributor.authorKlein, Matthieu
dc.contributor.authorGenest, Marc
dc.contributor.authorMaldague, Xabier
dc.date.accessioned2018-10-08T10:23:40Z
dc.date.available2018-10-08T10:23:40Z
dc.date.issued2018
dc.identifier.citationIEEE Transactions on Industrial Informatics, 14(12), p. 5648 - 5657 (2018); doi:10.1109/TII.2018.2836363
dc.identifier.issn1551-3203
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10651/48957
dc.format.extentp. 5648 - 5657
dc.language.isoeng
dc.relation.ispartofIEEE Transactions on Industrial Informatics, 14
dc.rights© 2018 IEEE
dc.sourceScopus
dc.source.urihttps://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-85047001845&doi=10.1109%2fTII.2018.2836363&partnerID=40&md5=ed0f75376bf2ddcec3060fe379bcf364
dc.titleAutomated dynamic inspection using active infrared thermography
dc.typejournal article
dc.identifier.doi10.1109/TII.2018.2836363
dc.relation.publisherversionhttp://dx.doi.org/10.1109/TII.2018.2836363


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